合肥工业大学计算机与信息学院导师：王伟 正文

　　姓名：王伟
　　性别：男
　　出生年月：
　　职称：副教授
　　学院：计算机与信息学院
　　研究方向：
　　嵌入式系统设计与应用
　　微系统与智能机器
　　VLSI低功耗设计与测试
　　计算机系统结构　　

　　简历
　　学历和研究工作简历：
　　2002年9月-2007年3月：合肥工业大学 计算机应用技术专业 硕博连读
　　2004年6月-2006年9月：中国科学院 计算技术研究所 博士阶段
　　2007年3月-2009年6月：中国科学院 计算技术研究所 博士后
　　2008年6月：合肥工业大学 计算机科学与技术专业 获硕士生导师资格

　　学术任职：
　　中国计算机学会 高级会员
　　第6届全国测试会议(CTC2010) 程序主席
　　WRTLT’09 出版主席
　　WRTLT’10程序委员会委员
　　王伟，男，2001年以优异成绩毕业于合肥工业大学计算机与信息学院计算机应用专业，获工学学士学位。2002年在合肥工业大学计算机与信息学院免试硕博连读，并于2007年3月博士毕业，并取得计算机应用技术工学博士学位。于2007年月至2009年6月，进入中国科学院计算技术研究所博士后流动站工作，期间获中国博士后科学基金“一等”资助项目。目前已成为计算机与信息学院的青年学术骨干。主要研究方向为SoC设计与测试、低功耗技术、VLSI容错与可靠性。近年来，作为课题负责人承担中国博士后科学基金“一等”资助课题1项，教育部博士点新教师基金1项，承担和参与973、国家自然科学基金重点等多项科研项目，发表论文十余篇。
　　科研经历丰富，具有较高的科研责任感与使命感，能够认真的完成科研任务。协助指导博士生2名,协助指导硕士生2名，目前正在指导硕士生3名。
　　近年来，较系统的研究了嵌入式系统设计与容错、VLSI低功耗技术、VLSI测试技术、VLSI容错技术、热量技术、NoC（Network-on-Chip, 片上网络）测试与低功耗技术、3D芯片结构与设计方法等，在嵌入式系统设计、容错、低功耗设计方面，具有扎实的基础理论水平与实际应用能力。

　　研究方向
　　嵌入式系统设计与应用
　　微系统与智能机器
　　VLSI低功耗设计与测试
　　计算机系统结构　　

　　教学工作
　　研究生课程：高级计算机系统机构
　　本科生课程：计算机系统结构； 数字系统设计自动化　　

　　获奖情况
　　2010年 “博创杯”全国大学生嵌入式设计大赛 一等奖 指导教师
　　2009年 安徽省科技进步三等奖 团队成员

　　论文著作
　　近年来的主要论文：

　　1．杨年宏，王伟，岳学民，陈田．一种热量敏感的3D SoC并行测试方法研究．第6届中国测试学术会议, 2010:307-309.
　　2．Wei Wang（王伟）, Yin-He Han, Xiao-Wei Li, Fang Fang（方芳）．Co-optimization of Dynamic/Static Test Power in Scan Test．Chinese Journal of Electronics, 2009, 18(1): 54-58．（SCI, EI）
　　3．方芳, 王伟, 王杰, 陈田, 杨年宏．低功耗测试研究进展．合肥工业大学学报(自然科学版), 2009, 32(6): 769-773.
　　4．方芳, 王伟, 韩银和, 李晓维．基于片上网络的多播测试中“热点”的优化算法．哈尔滨工业大学学报(增)．2009:166-171.
　　5．Fang Fang（方芳）, Wei Wang（王伟）, Yinhe Han, Xiaowei Li．A Thermal-aware Parallel Multicast Testing Method Based on Many-core Chips．Digest of Papers, IEEE 10th Workshop on RTL and High Level Testing(WRTLT’09), 2009:134-137.
　　6．Wang Wei（王伟）, Hu Yu, Han Yinhe, Li Xiaowei, Zhang Yousheng．Leakage Current Optimization Techniques During Test Based on Don’t Care Bits Assignment．Jorunal of Computer Science and Technology, 2007, 22(5):673-680．（SCI, EI）
　　7．陈田，梁华国，王伟，易茂祥，黄正峰．基于优化编码的LFSR重播种测试压缩方案．第6届中国测试学术会议, 2010:18-25．（已被推荐至《计算机研究与发展》，并已录用）
　　8．顾婉玉，梁华国，徐三字，陈田，王伟．一种基于响应中无关位填充的测试压缩方法．第6届中国测试学术会议, 2010:83-86.
　　9．陈田, 梁华国, 易茂祥, 王伟, 黄正峰, 张敏生．基于随机访问扫描的低功耗确定性测试方案．中国科学技术大学学报，已录用，2010.
　　10．王伟, 韩银和, 胡瑜, 李晓维, 张佑生．一种有效的低功耗扫描测试结构-PowerCut．计算机研究与发展, 2007, 44(3): 473-478．（EI）
　　11．王伟, 韩银和, 李晓维, 张佑生．基于测试向量中不确定位的漏电流优化技术．电子学报, 2006, 34(2):282-286．（EI）
　　12．王伟, 韩银和, 胡瑜, 李晓维, 张佑生．SoC测试中低成本、低功耗的芯核包装方法．计算机辅助设计与图形学学报, 2006, 18(9):1397-1402．（EI）
　　13．Wei Wang（王伟）, Yin-He Han, Xiao-Wei Li, You-Sheng Zhang, Yu Hu．PowerCut-A Novel Low-power Scan Testing．Proc．of IEEE 7th Workshop on RTL and High-Level Testing（WRTLT’06）, 2006:49-54.
　　14．王伟, 董福弟，陈田，方芳．一种3D芯片中TSV块容错设计方法．“计算机辅助设计与图形学学报”审稿中，2011年2月投出.
　　15．王伟, 方芳，陈田,王杰．TBPT: 一种使用测试树枝的基于多播NoC的SoC并行测试方法．“电子学报”审稿中, 2010年8月投出.

　　2009年获发明专利授权一项：

　　发明名称：一种块标记的系统芯片测试数据压缩方法
　　专利号：ZL200610156030.7
 

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